Structural, syntactic, and statistical pattern recognition Joint IAPR International Workshop, S+SSPR 2018, Beijing, China, August 17–19, 2018 : proceedings

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Bibliographische Detailangaben
Körperschaften:	International Association for Pattern Recognition (VeranstalterIn), S+SSPR (VerfasserIn)
Weitere Verfasser:	Bai, Xiao (HerausgeberIn), Hancock, Edwin R. (HerausgeberIn), Ho, Tin Kam (HerausgeberIn), Wilson, Richard C. (HerausgeberIn), Biggio, Battista (HerausgeberIn), Robles-Kelly, Antonio (HerausgeberIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	Cham Springer 2018
Schriftenreihe:	Lecture notes in computer science 11004
Schlagworte:	Konferenzschrift > Mustererkennung > Cluster-Analyse > Deep learning > Neuronales Netz
Online Zugang:	Inhaltstext Inhaltsverzeichnis Full Text
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