Structural, syntactic, and statistical pattern recognition : Joint IAPR International Workshop, S+SSPR 2018, Beijing, China, August 17–19, 2018 : proceedings

Structural, syntactic, and statistical pattern recognition Joint IAPR International Workshop, S+SSPR 2018, Beijing, China, August 17–19, 2018 : proceedings

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Körperschaften: International Association for Pattern Recognition (VeranstalterIn), S+SSPR (VerfasserIn)
Weitere Verfasser: Bai, Xiao (HerausgeberIn), Hancock, Edwin R. (HerausgeberIn), Ho, Tin Kam (HerausgeberIn), Wilson, Richard C. (HerausgeberIn), Biggio, Battista (HerausgeberIn), Robles-Kelly, Antonio (HerausgeberIn)
Format: UnknownFormat
Sprache:eng
Veröffentlicht: Cham Springer 2018
Schriftenreihe:Lecture notes in computer science 11004
Schlagworte:
Konferenzschrift > Mustererkennung > Cluster-Analyse > Deep learning > Neuronales Netz
Online Zugang:Inhaltstext
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Beschreibung
Beschreibung:xiii, 524 Seiten
Illustrationen
23.5 cm x 15.5 cm
ISBN:9783319977843
978-3-319-97784-3
3319977849
3-319-97784-9