Verbundprojekt: Entwicklung hocheffizienter kostengünstiger Vakuum-Beschichtungsverfahren mit höchstem Durchsatz - Simulation, Experiment, Charakterisierung, Kostenrechnung (SIMPLEX) Teilprojekt: Monitoring des Schichtwachstums ultradünner dielektrischer Schichten : Abschlussbericht für den Zeitraum 01.10.2014 bis 31.03.2018 (inklusive der kostenneutralen Verlängerung)

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Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Richter, Uwe (VerfasserIn)
Körperschaft: Sentech Instruments GmbH (Herausgebendes Organ)
Format: UnknownFormat
Sprache:ger
Veröffentlicht: Berlin SENTECH Instruments GmbH 18.07.2018
Schlagworte:
Online Zugang:Inhaltsverzeichnis
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Beschreibung
Beschreibung:Förderkennzeichen BMWi 0325754C. - Verbund-Nummer 01154817
Projektleiter ist laut Berichtsblatt Autor
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Beschreibung:24 Blätter, 1 ungezähltes Blatt
Illustrationen, Diagramme