Why weak patents? testing the examiner ignorance hypothesis

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Journal of public economics
1. Verfasser: Lei, Zhen (VerfasserIn)
Weitere Verfasser: Wright, Brian D. (VerfasserIn)
Format: UnknownFormat
Sprache:eng
Veröffentlicht: April 2017
Schlagworte:
Patent office > Patent quality > Patent examiner > Weak patent > Intellectual property > Aufsatz in Zeitschrift
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Beschreibung
ISSN:0047-2727