Fundamentals of electromigration-aware integrated circuit design

Bibliographische Detailangaben

1. Verfasser:	Lienig, Jens (VerfasserIn)
Weitere Verfasser:	Thiele, Matthias (VerfasserIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	Cham Springer 2018
Schlagworte:
Online Zugang:	Cover
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