A new model for measuring the impact of patent value growth trajectory

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	International journal of technology, policy and management
1. Verfasser:	Chang, Shu-Hao (VerfasserIn)
Weitere Verfasser:	Fan, Chin-Yuan (VerfasserIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	2017
Schlagworte:	international linkage > knowledge stock > latent growth curve model > patent analysis > patent breadth > patent value > Aufsatz in Zeitschrift
Tags:	Tag hinzufügen Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!

Beschreibung
ISSN:	1468-4322