Investition eines hochauflösenden Focused-Ion-Beam Rasterelektronenmikroskops (FIB-REM) an der Hochschule München - "FIB-REMInvest" Schlussbericht

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Koch, Ursula (VerfasserIn)
Körperschaft: Hochschule für Angewandte Wissenschaften München Fakultät für Angewandte Naturwissenschaften und Mechatronik (Herausgebendes Organ)
Weitere Verfasser: Eulenkamp, Constanze (VerfasserIn)
Format: UnknownFormat
Sprache:ger
Veröffentlicht: München Hochschule für angewandte Wissenschaften München, Fakultät 06 10.01.2018
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