Investition eines hochauflösenden Focused-Ion-Beam Rasterelektronenmikroskops (FIB-REM) an der Hochschule München - "FIB-REMInvest" Schlussbericht

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Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser:	Koch, Ursula (VerfasserIn)
Körperschaft:	Hochschule für Angewandte Wissenschaften München Fakultät für Angewandte Naturwissenschaften und Mechatronik (Herausgebendes Organ)
Weitere Verfasser:	Eulenkamp, Constanze (VerfasserIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	ger
Veröffentlicht:	München Hochschule für angewandte Wissenschaften München, Fakultät 06 10.01.2018
Schlagworte:	Forschungsbericht > Rasterelektronenmikroskop > Ionenstrahl
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Beschreibung
Beschreibung:	Förderkennzeichen BMBF 13FH006IN6 Ausführende Stelle ist laut Anschreiben: Hochschule für Angewandte Wissenschaften München, Fakultät 06 Unterschiede zwischen dem gedruckten Dokument und der elektronischen Ressource können nicht ausgeschlossen werden
Beschreibung:	13 Seiten Illustrationen