VLSI testing

Bibliographische Detailangaben

Weitere Verfasser:	Williams, T. W. (HerausgeberIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	Amsterdam u.a. North-Holland 1988
Ausgabe:	1. ed., 2. print
Schriftenreihe:	Advances in CAD for VLSI 5
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