Eighth Annual IEEE Semiconductor Thermal Measurement and Management Symposium, February 3 - 5, 1992, Austin, TX, USA

Eighth Annual IEEE Semiconductor Thermal Measurement and Management Symposium, February 3 - 5, 1992, Austin, TX, USA

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Körperschaften: Semiconductor Thermal Measurement and Management Symposium (VerfasserIn), Institute of Electrical and Electronics Engineers (BerichterstatterIn)
Format: UnknownFormat
Sprache:eng
Veröffentlicht: New York, NY IEEE 1992
Schlagworte:
Konferenzschrift > Halbleiterschaltung > Temperaturmessung
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Beschreibung
Beschreibung:VIII, 136 S.
Ill., graph. Darst
ISBN:0780305000
0-7803-0500-0
0780305019
0-7803-0501-9
0780305027
0-7803-0502-7