Electrical behaviour of defects at a thermally oxidized silicon surface

Zugl.: Eindhoven, Techn. Hogesch., Diss., 1970

Bibliographische Detailangaben

1. Verfasser:	Whelan, M. V. (VerfasserIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	Eindhoven Philips' Gloeilampenfabrieken 1970
Schriftenreihe:	Philips research reports supplements 1970,6
Schlagworte:	Hochschulschrift
Online Zugang:	Inhaltsverzeichnis
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