In-process optical metrology for precision machining 31 March - 2 April 1987, The Hague, The Netherlands

Bibliographische Detailangaben

Körperschaften:	Association nationale de la recherche technique (BerichterstatterIn), SPIE, the International Society for Optical Engineering (BerichterstatterIn)
Weitere Verfasser:	Langenbeck, Peter (HerausgeberIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	Bellingham, Wash. SPIE 1987
Schriftenreihe:	SPIE Proceedings 802
Schlagworte:	Konferenzschrift
Online Zugang:	Inhaltsverzeichnis
Tags:	Tag hinzufügen Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!