Characterization of very high speed semiconductor devices and integrated circuits : 23 - 25 March 1987, Bay Point, Florida

Characterization of very high speed semiconductor devices and integrated circuits 23 - 25 March 1987, Bay Point, Florida

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Körperschaften: SPIE, the International Society of Optical Engineering (BerichterstatterIn), The Metallurgical Society (BerichterstatterIn)
Weitere Verfasser: Jain, Ravi (HerausgeberIn)
Format: UnknownFormat
Sprache:eng
Veröffentlicht: Bellingham, Wash. SPIE 1987
Schriftenreihe:Proceedings / SPIE 795
Critical reviews of optical science and technology
Schlagworte:
Semiconductors > Congresses > Integrated circuits > Konferenzschrift
Online Zugang:Inhaltsverzeichnis
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Beschreibung
Beschreibung:X, 359 S.
Ill., graph. Darst.
ISBN:0892528303
0-89252-830-3