Measurement and effects of surface defects and quality of polish : January 21 - 22, 1985, Los Angeles, California

Measurement and effects of surface defects and quality of polish January 21 - 22, 1985, Los Angeles, California

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Körperschaft: Sira Ltd., the Research Association for Instrumentation (BerichterstatterIn)
Weitere Verfasser: Baker, Lionel R. (HerausgeberIn), Bennett, H. E. (HerausgeberIn)
Format: UnknownFormat
Sprache:eng
Veröffentlicht: Bellingham, Wash. SPIE 1985
Schriftenreihe:Proceedings / SPIE 525
Schlagworte:
Optical measurements > Congresses > Quality control > Optical methods > Surface roughness > Measurement > Konferenzschrift
Online Zugang:Inhaltsverzeichnis
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Beschreibung
Beschreibung:VI, 198 S.
Ill., graph. Darst.
ISBN:0892525606
0-89252-560-6