VLSI testing and validation techniques
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| Format: | UnknownFormat |
| Sprache: | eng |
| Veröffentlicht: |
New York u.a.
IEEE u.a.
1985
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Tag hinzufügen | Beschreibung: | IX, 603 S graph. Darst |
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| ISBN: | 0818606681 0-8186-0668-1 0444879471 0-444-87947-1 |