Finite-Element-Analyse zur Ermittlung der Eichkurve für eine Dreipunkt-Biegeprobe (SENB-Probe) zur Anwendung der elektrischen Potentialmethode für Rißlängenmessung

Bibliographische Detailangaben

1. Verfasser:	Dietrich, Rudolf A. (VerfasserIn)
Format:	UnknownFormat
Veröffentlicht:	Geesthacht GKSS 1982
Schriftenreihe:	GKSS E 82,38
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