International conference on photomechanics and speckle metrology part of a four-conference program on precision instrument design

Bibliographische Detailangaben

Körperschaften:	SPIE, the International Society for Optical Engineering (BerichterstatterIn), Office of Naval Research (BerichterstatterIn), Society for Experimental Mechanics (BerichterstatterIn)
Weitere Verfasser:	Chiang, Fu-Pen (HerausgeberIn)
Format:	UnknownFormat
Veröffentlicht:	Bellingham, Wash. SPIE
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