Experimental aspects

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Bourgoin, Jacques (VerfasserIn)
Weitere Verfasser: Lannoo, Michel (VerfasserIn), Watkins, G. D. (BerichterstatterIn)
Format: UnknownFormat
Sprache:eng
Veröffentlicht: Berlin u.a. Springer 1983
Schriftenreihe:Lannoo, Michel Point defects in semiconductors. 2
Springer series in solid-state sciences 35
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Beschreibung
Beschreibung:XVI, 295 S
graph. Darst
ISBN:3540115153
3-540-11515-3
0387115153
0-387-11515-3