Experimental aspects
Gespeichert in:
1. Verfasser: | |
---|---|
Weitere Verfasser: | , |
Format: | UnknownFormat |
Sprache: | eng |
Veröffentlicht: |
Berlin u.a.
Springer
1983
|
Schriftenreihe: | Lannoo, Michel Point defects in semiconductors.
2 Springer series in solid-state sciences 35 |
Schlagworte: | |
Tags: |
Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
|
Beschreibung: | XVI, 295 S graph. Darst |
---|---|
ISBN: | 3540115153 3-540-11515-3 0387115153 0-387-11515-3 |