Particle induced X-ray emission and its analytical applications proceedings of the Fifth International Conference on PIXE and Its Analytical Applications, Amsterdam, The Netherlands, August 21 - 25, 1989

Bibliographische Detailangaben

Körperschaft:	International Conference on PIXE and Its Analytical Applications (BerichterstatterIn)
Weitere Verfasser:	Vis, Ronald D. (HerausgeberIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	Amsterdam North-Holland 1990
Schriftenreihe:	Nuclear instruments & methods in physics research Beam interactions with materials and atoms 49,1/4
Schlagworte:	Konferenzschrift
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