Analytische Beschreibung des Degradationsverhaltens von Submikrometer-MOS-Bauelementen durch heiße Ladungsträger Experimente, Modellbildung und Simulation für schaltungstechnische Anwendungen

Berlin, Techn. Univ., Diss., 1991

Bibliographische Detailangaben

1. Verfasser:	Wang, Qin (VerfasserIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	ger
Veröffentlicht:	1991
Schlagworte:	Hochschulschrift
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