Testing's impact on design [and ] technology : proceedings

Testing's impact on design [and ] technology proceedings

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Körperschaften: IEEE Computer Society (BerichterstatterIn), IEEE Philadelphia Section (BerichterstatterIn)
Format: UnknownFormat
Sprache:eng
Veröffentlicht: Washington, D.C. IEEE Computer Society Pr. 1986
Schriftenreihe:International Test Conference 1986
Schlagworte:
Konferenzschrift
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Beschreibung
Beschreibung:IEEE Catalog 86CH2339-0
Beschreibung:XXX, 1009 S
ISBN:0818607262
0-8186-0726-2
0818647264
0-8186-4726-4
0818687266
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