Untersuchung von Grenzflächen zwischen III-V- und II-VI-Halbleitern mittels Photoemission
Berlin, Techn. Univ., Diss., 1989
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1. Verfasser: | |
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Format: | UnknownFormat |
Sprache: | ger |
Veröffentlicht: |
1989
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Ausgabe: | [Mikrofiche-Ausg.] |
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Zusammenfassung: | Berlin, Techn. Univ., Diss., 1989 |
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Beschreibung: | 2 Mikrofiches |
Beschreibung: | 174 Seiten |