Chaos and stability in defect processes in semiconductors

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Bibliographische Detailangaben
Weitere Verfasser:	Verner, Igor V. (BerichterstatterIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	Vaduz Sci-Tech Publications 1993
Schriftenreihe:	Diffusion and defect data Defect and diffusion forum 90
Schlagworte:	Halbleiter > Strahlenschaden > Synergetik > Gitterbaufehler
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