Testmustergenerierung mit hoher Fehlerüberdeckung für CMOS-Schaltungen

Gespeichert in:

Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser:	Hübner, Uwe (VerfasserIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	ger
Veröffentlicht:	Sankt Augustin Gesellsch. f. Mathem. u. Datenverarb. 1989
Schriftenreihe:	GMD-Studien 174
Schlagworte:	CMOS-Schaltung
Tags:	Tag hinzufügen Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!

Keine Ergebnisse!