Testmustergenerierung mit hoher Fehlerüberdeckung für CMOS-Schaltungen

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Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser:	Hübner, Uwe (VerfasserIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	ger
Veröffentlicht:	Sankt Augustin Gesellsch. f. Mathem. u. Datenverarb. 1989
Schriftenreihe:	GMD-Studien 174
Schlagworte:	CMOS-Schaltung
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Beschreibung
Beschreibung:	Mit engl. Zsfassung. - Literaturverz. S. 155 - 156
Beschreibung:	161, [121] S graph. Darst
ISBN:	3884571745 3-88457-174-5