Novel application of anomalous (resonance) X-ray scattering for structural characterization of disordered materials

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Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser:	Waseda, Yoshio (VerfasserIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	Berlin u.a. Springer 1984
Schriftenreihe:	Lecture notes in physics 204
Schlagworte:	Order-disorder models > X-rays > Scattering > Amorpher Festkörper > Röntgenstreuung > Ungeordnetes System > Anomale Röntgenstreuung > Röntgenographie > Strukturaufklärung
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