X-ray microscopy III proceedings of the third international conference, London, September 3 - 7, 1990 ; [XRM 90]

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Bibliographische Detailangaben
Körperschaft:	XRM (BerichterstatterIn)
Weitere Verfasser:	Michette, Alan G. (BerichterstatterIn), Morrison, Graeme R. (BerichterstatterIn), Buckley, Christopher J. (BerichterstatterIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	Berlin u.a. Springer 1992
Schriftenreihe:	Springer series in optical sciences 67
Schlagworte:	Konferenzschrift
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