EXAFS spectroscopy techniques and applications ; [based on proceedings of a symposium held at the meeting of the Materials Research Society, Nov. 26-30, 1979 in Boston]

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Körperschaften: Materials Research Society (BerichterstatterIn), Symposium on the Applications of EXAFS to Materials Science (BerichterstatterIn)
Weitere Verfasser: Teo, Boon Keng (BerichterstatterIn), Joy, David C. (BerichterstatterIn), Teo, Boon K. (HerausgeberIn)
Format: UnknownFormat
Sprache:eng
Veröffentlicht: New York u.a. Plenum Press 1981
Schlagworte:
Online Zugang:Cover
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