EXAFS spectroscopy techniques and applications ; [based on proceedings of a symposium held at the meeting of the Materials Research Society, Nov. 26-30, 1979 in Boston]

Bibliographische Detailangaben

Körperschaften:	Materials Research Society (BerichterstatterIn), Symposium on the Applications of EXAFS to Materials Science (BerichterstatterIn)
Weitere Verfasser:	Teo, Boon Keng (BerichterstatterIn), Joy, David C. (BerichterstatterIn), Teo, Boon K. (HerausgeberIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	New York u.a. Plenum Press 1981
Schlagworte:	Konferenzschrift > EXAFS > Spektroskopie > Röntgenabsorptionsfeinstruktur
Online Zugang:	Cover
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