Long term failure mechanisms and reliability risks in EEE components for space application 7th International Conference on Reliability and Maintainability, Brest, France, 18.-22.06.90

Bibliographische Detailangaben

1. Verfasser:	Rieger, Rolf (VerfasserIn)
Körperschaft:	Information und Dokumentation, Messerschmitt-Bölkow-Blohm GmbH (MBB), München (BerichterstatterIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	München Zentrale Berichtsstelle, Technisch-wissenschaftliche Information, Messerschmitt-Bölkow-Blohm GmbH 1990
Schriftenreihe:	OTN 030847 MBB UK PUB 90,99
Schlagworte:
Tags:	Tag hinzufügen Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!