Fault diagnosis and yield enhancement in defect tolerant VLSI/WSI parallel architectures

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Wang, Kuochen (VerfasserIn)
Format: UnknownFormat
Veröffentlicht: Ann Arbor UMI 1991
Schlagworte:
Tags: Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
Beschreibung
Beschreibung:Tempe, Univ.of Arizona, Ph.D.Thesis 1991
Beschreibung:MFiches