Predictive subset testing optimizing IC parametric performance testing for quality, cost, and yield

Bibliographische Detailangaben

1. Verfasser:	Brockman, Jay (VerfasserIn)
Körperschaft:	Carnegie Mellon University Center for Computer Aided Design (BerichterstatterIn)
Weitere Verfasser:	Director, Stephen W. (VerfasserIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	Pittsburgh, Pa. 1989
Schriftenreihe:	Research report / Carnegie-Mellon University, CMUCAD 89,32
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