Die Tieftemperaturlumineszenzspektroskopie als Messtechnik zur Charakterisierung von Silicium-Halbleiterbasismaterialien
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| Format: | UnknownFormat |
| Veröffentlicht: |
Dresden
1989
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Tag hinzufügen | Beschreibung: | Dresden, TH, Fak. f. Naturwiss. u. Math., Diss. 1989 |
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| Beschreibung: | 121 S., 19 S. Anh Ill., graph. Darst |