Multiple-fault test sets for MOS complex gates

Bibliographische Detailangaben

1. Verfasser:	Ferguson, F. Joel (VerfasserIn)
Körperschaft:	SRC-CMU Center for Computer-Aided Design, Department of Electrical and Computer Engineering, Carnegie-Mellon University (BerichterstatterIn)
Weitere Verfasser:	Shen, John P. (VerfasserIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	Pittsburgh, Pa. 1986
Schriftenreihe:	Research report / Center for Computer-Aided Design, Carnegie-Mellon University 86,10
Schlagworte:
Tags:	Tag hinzufügen Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!