Finite-Element-Analysen zum Ermitteln von Eichkurven für das Messen der Tiefe von halbkreis- und ellipsenförmigen Oberflächenrissen mit der Gleichstrom-Potential-Methode

Bibliographische Detailangaben

1. Verfasser:	Dietrich, Rudolf A. (VerfasserIn)
Format:	UnknownFormat
Veröffentlicht:	Geesthacht 1990
Schriftenreihe:	Gesellschaft für Kernenergieverwertung in Schiffbau und Schiffahrt 90/E/7
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