Scanning electron microscopy, X-ray microanalysis, and analytical electron microscopy a laboratory workbook

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Bibliographische Detailangaben
Weitere Verfasser:	Lyman, Charles E. (HerausgeberIn), Newbury, Dale E. (BerichterstatterIn), Goldstein, Joseph (BerichterstatterIn), Williams, David B. (BerichterstatterIn), Romig, Alton D. Jr. (BerichterstatterIn), Armstrong, John T. (BerichterstatterIn), Echlin, Patrick (BerichterstatterIn), Fiori, Charles E. (BerichterstatterIn), Joy, David C. (BerichterstatterIn), Lifshin, Eric (BerichterstatterIn), Peters, Klaus-Ruediger (BerichterstatterIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	New York u.a. Plenum Press 1990
Schlagworte:	Elektronenmikroskopie > Rasterelektronenmikroskopie > Elektronenstrahlmikroanalyse
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