Transmission electron microscopy of InxGa1-xAs/GaAs strained-layer structures

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Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser:	Yao, Ji-Yong (VerfasserIn)
Format:	UnknownFormat
Veröffentlicht:	Göteborg, Sweden Dept. of Physics, Univ. 1990
Schriftenreihe:	Doktorsavhandlingar vid Chalmers Tekniska Högskola. N.S. 750
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