Transmission electron microscopy of InxGa1-xAs/GaAs strained-layer structures
Gespeichert in:
| 1. Verfasser: | |
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| Format: | UnknownFormat |
| Veröffentlicht: |
Göteborg, Sweden
Dept. of Physics, Univ.
1990
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| Schriftenreihe: | Doktorsavhandlingar vid Chalmers Tekniska Högskola. N.S.
750 |
| Schlagworte: | |
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Tag hinzufügen | Beschreibung: | Zugl.: Göteborg, Chalmers Univ., Diss., 1990 |
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| Beschreibung: | Getr. Zählung |
| ISBN: | 9170325103 91-7032-510-3 |