Weiterentwicklung der Elektronenstrahl-Mikroanalyse der Kossel-, Punkt-Pseudo-Kossel- und Weitwinkel-Interferenzverfahren sowie der Einsatz dieser Methoden in der Festkörperphysik und Werkstofforschung

Bibliographische Detailangaben

1. Verfasser:	Ullrich, Hans-Jürgen (VerfasserIn)
Format:	UnknownFormat
Veröffentlicht:	1975
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