Weiterentwicklung der Elektronenstrahl-Mikroanalyse der Kossel-, Punkt-Pseudo-Kossel- und Weitwinkel-Interferenzverfahren sowie der Einsatz dieser Methoden in der Festkörperphysik und Werkstofforschung

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Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Ullrich, Hans-Jürgen (VerfasserIn)
Format: UnknownFormat
Veröffentlicht: 1975
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Beschreibung
Beschreibung:Dresden, Techn. Univ., Fak. für Naturwiss. und Mathematik, Diss. 1975
Beschreibung:Ca. 140 S