Scanning electron microscopy and x-ray microanalysis a text for biologists, materials scientists, and geologists

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Bibliographische Detailangaben
Weitere Verfasser: Goldstein, Joseph (BerichterstatterIn), Newbury, Dale E. (BerichterstatterIn), Echlin, Patrick (BerichterstatterIn), Joy, David C. (BerichterstatterIn), Fiori, charles (BerichterstatterIn), Lifshin, Eric (BerichterstatterIn)
Format: UnknownFormat
Sprache:eng
Veröffentlicht: New York u.a. Plenum Press 1984
Ausgabe:2. print
Schlagworte:
Online Zugang:Cover
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Beschreibung
Beschreibung:Literaturverz. S. 649-664
Beschreibung:XIII, 673 S
zahlr. Ill., graph. Darst
ISBN:030640768X
0-306-40768-X