Ellipsometry and the Ti/c-Si solid state reaction

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Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Nijs, Jan de (VerfasserIn)
Format: UnknownFormat
Veröffentlicht: Enschede 1989
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Beschreibung
Beschreibung:Univ. Twente, Proefschr. 1989
Beschreibung:143 S. 25 cm