Tests, measurements, and characterization of electro-optic devices and systems Conference, part of a three-conference program on Integrated Photonics

Bibliographische Detailangaben

Körperschaft:	SPIE, the International Society for Optical Engineering (BerichterstatterIn)
Weitere Verfasser:	Wadekar, Shekhar G. (HerausgeberIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	Bellingham, Wash. SPIE 1989
Schriftenreihe:	Proceedings of the Society of Photo-Optical Instrumentation Engineers 1180
Schlagworte:	Konferenzschrift
Online Zugang:	Inhaltsverzeichnis
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