Impact ionization in semiconductors and hot-carrier injection in Si-MOSFETs

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Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Chen, Yu Zhang (VerfasserIn)
Format: UnknownFormat
Veröffentlicht: Ann Arbor UMI 1989
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Beschreibung
Beschreibung:Amherst, Univ.of Massachusetts, Ph.D.Thesis 1989
Beschreibung:161 S