Evaluation of advanced semiconductor materials by electron microscopy [proceedings of a NATO Advanced Research Workshop on the Evaluation of Advanced Semiconductor Materials by Electron Microscopy, held September 12 - 17, 1988, in Bristol, United Kingdon]

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Bibliographische Detailangaben
Körperschaft:	Advanced Research Workshop on the Evaluation of Advanced Semiconductor Materials by Electron Microscopy (BerichterstatterIn)
Weitere Verfasser:	Cherns, David (HerausgeberIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	New York u.a. Plenum Press 1989
Schriftenreihe:	NATO ASI series Series B, Physics 203
Schlagworte:	Semiconductors > Surfaces > Electron microscopy > Technique > Konferenzschrift > Halbleiterwerkstoff > Elektronenmikroskopie
Online Zugang:	Inhaltsverzeichnis
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