Developments in integrated circuit testing

Developments in integrated circuit testing

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Körperschaft: New directions in ic testing (BerichterstatterIn)
Weitere Verfasser: Miller, D. M. (HerausgeberIn)
Format: UnknownFormat
Sprache:eng
Veröffentlicht: London u.a. Academic Pr. 1987
Schriftenreihe:Perspectives in computing 18
Schlagworte:
Integrated circuits > Testing > Digital integrated circuits. Testing > Digital integrated circuits++Testing > Konferenzschrift > Integrierte Schaltung > Prüftechnik
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Beschreibung
Beschreibung:Includes bibliography and index
Beschreibung:X, 440 S.
Ill.
23 cm
ISBN:0124967353
0-12-496735-3