Characterization and measurement of 1/f noise in MOS transistors

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Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser:	Yat San Ng, Sunny (VerfasserIn)
Format:	UnknownFormat
Veröffentlicht:	1986
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Beschreibung
Beschreibung:	Berkeley, Univ.of California, M.Sc.Thesis 1986
Beschreibung:	47 S