Correlated noise in silicon strip detector readout

Bibliographische Detailangaben

1. Verfasser:	Lutz, Gerhard (VerfasserIn)
Körperschaft:	Werner-Heisenberg-Institut für Physik, Max-Planck-Institut für Physik und Astrophysik, München (BerichterstatterIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	München 1987
Schriftenreihe:	Max-Planck-Institut für Physik und Astrophysik EXP EL 173
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