MOS1 a program for two-dimensional analysis of Si MOSFETs

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Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser:	Wilson, Charles L. (VerfasserIn)
Weitere Verfasser:	Blue, James L. (VerfasserIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	Washington, DC US Gov. Print. Off. 1985
Schriftenreihe:	Semiconductor measurement technology 77
Schlagworte:
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Beschreibung
Beschreibung:	Issued April 1985 Bibliography: p. 38-39
Beschreibung:	IV, 55 S. graph. Darst. 4°