Finite-Element-Analyse zur Eichkurvenberechnung von Bruchmechanikproben bei halbkreisförmigen Oberflächenrissen verschiedener Anrisstiefe für die Risstiefenmessung nach der Gleichstrom-Potential-Methode

Bibliographische Detailangaben

1. Verfasser:	Dietrich, Rudolf A. (VerfasserIn)
Weitere Verfasser:	Schönfeld, W (VerfasserIn)
Format:	UnknownFormat
Veröffentlicht:	Geesthacht GKSS-Forschungszentrum 1987
Schriftenreihe:	GKSS 87/E/19
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